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篠原 孝司; 佐藤 正泰; 川島 寿人; 都筑 和泰; 鈴木 貞明; 浦田 一宏*; 伊世井 宣明; 谷 孝志; 菊池 一夫; 柴田 孝俊; et al.
Fusion Science and Technology, 49(2), p.187 - 196, 2006/02
被引用回数：7 パーセンタイル：45.96(Nuclear Science & Technology)JFT-2Mではフェライト鋼の挿入によりトロイダル磁場のリップルを低減した。二種の低減法が試された。最初の場合では、フェライト鋼はトロイダルコイルと真空容器に挟まれる空間に設置された。二つ目の場合ではフェライトは真空容器の内面をほぼ全面覆うように設置された。いずれの場合もリップルの低減に成功し、高速イオンの熱負荷の低減を確認した。また、フェライト鋼によって発生する複雑磁場に対応したOFMCコードも作成した。ここではJFT-2Mのフェライト鋼挿入によるリップル低減についてレビューする。
原野 英樹*
JAERI-Research 97-060, 132 Pages, 1997/09
JAERI-Research-97-060.pdf:4.49MB
プラズマ中の高速イオンの挙動解明は核融合炉実現のための必須条件であり、トリトン燃焼はそのための最も有効なアプローチの一つである。本研究ではトリトン燃焼の時間変化測定のため、指向性DT中性子検出器シンチレーションファイバ検出器を開発し、JT-60Uに設置した。本検出器は耐放射線性に優れる他、核融合放射線場からDT中性子のみを高時間分解能、かつ高ダイナミックレンジにて選別し測定するという特長を持つことを各種性能試験により確認した。またJT-60Uにて本検出器により測定した放電中のDT中性子発生率の時間変化をOFMCコード等を用いて解析した結果、トリトンの減速過程は古典的減速モデルに従うこと、トリトンの古典的輸送過程はリップル輸送に支配されること等、高速イオンの挙動に関する幾つかの有益な知見が見られた。
閨谷 譲; 芳野 隆治; 安東 俊郎
Fusion Technology, 28, p.1634 - 1643, 1995/11
プラズマの垂直移動に伴うハロー電流をJT-60Uに密度限界ディスラプション及び模擬垂直位置不安定放電において観測した。このハロー電流は、I
、B
が時計まわりの時、内側セパラトリクスから真空容器に流入し、セパラトリクス外側でプラズマにもどる。ハロー電流によると思われるCFC材の破損から、この破壊に必要な電流を評価し、トロイダル方向の非一様性として2.5という値を得た。この非一様性の原因としては、プラズマが真空容器とトロイダル方向に一様に接続していないことが考えられる。これは、トロイダル磁場のリップル、真空容器自体の変形、PFCの熱伸び等で発生し、相対変位
6cm程度で2.5という非一様性が説明可能である。この非一様性を考慮するとJT-60Uではハロー電流は、プラズマ電流の約26%程度と評価される。
飛田 健次; 閨谷 譲; 草間 義紀; 竹内 浩
Review of Scientific Instruments, 66(1), p.594 - 596, 1995/01
被引用回数：11 パーセンタイル：67.05(Instruments & Instrumentation)トロイダル磁場リップルによる輸送、波-粒子間相互作用、及びMHDモードは、高速イオンの損失を増長し、結果的に、第一壁の局所的な温度上昇をもたらす可能性がある。第一壁温度の二次元計測は、これらの現象の物理を理解するのに役立つ。本稿では、赤外線テレビカメラを用いた第一壁温度測定を取り上げ、その測定結果から導かれる高速イオンの挙動について解説する。取り上げる測定データは、リップル損失の二次元分布、電場及びポテンシャルがその分布に与える効果、ICRFによるリップル損失の増長効果である。
飛田 健次; 谷 啓二; 閨谷 譲; A.A.E.VanBlokland*; 三浦 早苗*; 藤田 隆明; 竹内 浩; 西谷 健夫; 松岡 守; 武智 学*
Physical Review Letters, 69(21), p.3060 - 3063, 1992/11
被引用回数：49 パーセンタイル：86.13(Physics, Multidisciplinary)JT-60U第一壁面の熱負荷を測定し、中性粒子入射によって供給された高速イオンのトロイダル磁場リップルに帰因する粒子損失を調べた。その熱負荷はトロイダル/ポロイダル両方向に局在化し、リップル率または安全係数の増大に伴って増加した。リップル損失の実験値は、軌道追跡モンテカルロ計算と良く一致した。しかしながら、熱負荷が最大となる位置を、実験と計算とで比較すると、両者にはわずかな差異が認められた。この結果は、リップル捕捉イオンの軌道が、プラズマ中の径方向電場によって偏向されていることを示す。
嶋田 道也; 藤井 常幸; 山本 巧; 今井 剛; 木島 滋; 鈴木 紀男; 荘司 昭朗; 長島 章; 上原 和也; 前野 勝樹; et al.
Journal of the Physical Society of Japan, 49(4), p.1643 - 1644, 1980/00
被引用回数：2 パーセンタイル：45.36(Physics, Multidisciplinary)ローアーハイブリッド波加熱の際、発生する高速イオンの減衰時間(200~400
S)の解釈を行った結果、高速イオン(23KeV)は0.6≦r/a≦0.9の領域に存在すること、及び、減衰機構としては損失錐またはトロイダル磁場のリップル損失錐へのピッチ角散乱が有力であることがわかった。
